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  • BeamPeek™系统
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  • BeamPeek™系统

    BeamPeek™系统实现了增材制造(AM)激光器的同步光束分析、焦点大小和位置以及功率测量。它跟踪这些参数如何随时间变化,以帮助保持制造零件的质量和可重复性。BeamPeek™集成了激光光束分析相机、功率计、光束收集器、分束器和光学器件,为工业环境中的增材制造激光分析提供了全包解决方案。

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商品描述

BeamPeek™系统实现了增材制造(AM)激光器的同步光束分析、焦点大小和位置以及功率测量。它跟踪这些参数如何随时间变化,以帮助保持制造零件的质量和可重复性。BeamPeek™集成了激光光束分析相机、功率计、光束收集器、分束器和光学器件,为工业环境中的增材制造激光分析提供了全包解决方案。


规格


波长

532nm、1030-1080nm

最小-最大焦点光斑尺寸34.5μm - ~ 2mm
功率范围

10-1000W

焦距150mm-800mm
±100µm
光束分析ISO 11146 测量
功率计NIST 可溯源校准 ±3%
遵守CE、UKCA、China RoHS


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