Santec快速扫描系统由TSL系列可调谐激光器，MPM系列多通道功率计，PCU-110偏振控制器组成。Santec专用的软件使得系统测量IL,WDL和PDL时最优化，既可用于研发，也可用于生产环境。通过实时校正，从可调谐激光器中同时获得输出功率，通过DUT传输到功率计，系统通过穆勒矩阵法提供高精度的IL,WDL,PDL分析。
规格
| 项目参数 | 单位
| 规格 | 备注
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| Type A | Type B | Type P |
| 绝对波长精度（典型值） | pm | ±12 | ±2.5 | ±1.0 | at50nm/s |
| ±15 | ±3.5 | ±1.5 | at100nm/s |
| ±17 | ±4.5 | ±2.1 | at200nm/s |
| 相对波长精度（典型值） | pm | ±9 | ±2.2 | ±0.8 | at50nm/s |
| ±12 | ±3.0 | ±1.3 | at100nm/s |
| ±14 | ±4.0 | ±1.9 | at200nm/s |
| 波长重复性 | pm
| ±5 | ±1.2 | ±0.5 | at50nm/s |
| ±6 | ±1.5 | ±0.8 | at100nm/s |
| ±8 | ±2.0 | ±1.1 | at200nm/s |
| 可调谐激光器 |
| TSL-570 Type c and Type p
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| 光功率计模块 |
| MPM-211,212
| MPM-215 |
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| 扫描速度 | nm/s | 1 to 200 |
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| 单次扫描插损动态范围（典型值） | dB | 40 | 60 |
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| 2次扫描插损动态范围值（典型值） | dB | 75
| - |
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| PDL动态范围（典型值） | dB | 0 to 5 |
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| IL测量时间（典型值） | sec | 3@100nm/s,1.5@nm/s |
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| IL/PDL测量时间（典型值） | sec | 12@100nm/s,6@nm/s |
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| 分辨率 | pm | 0.1
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IL准确度（典型值）
| dB
| ±0.02 | ±0.02 | 0 to 30 dB Device IL |
| ±0.1 | ±0.02 | 30 to 40 dB Device IL |
| ±0.1 | ±0.05 | 40 to 60 dB Device IL |
| IL重复性（典型值） | dB | ±0.02 |
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| IL分辨率 | dB | ±0.001 |
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| 通信 | - | USB(USB2.0 High Speed) GP-IB(IEEE488.2),Ethernet | MPM-210H PCO-110/MPM-210H |
| 工作温度 | ℃ | 15 to 35 |
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| 工作湿度 | % | <80 | non-condensing |
WDL（波长相关损耗）测量
可进行80 dB高动态范围测量或更多
Santec可调谐激光器TSL系列创新的腔体设计，可降低光ASE噪音，高信噪比超过90 dB / 0.1 nm以上，并且同时保持高输出功率 + 10 dBm以上。TSL系列可完美针对高密度波分复用（DWDM）和波长选择开关（WSS）等下一代光器件测试。以下图表是CWDM滤波器和陷波滤波器（如FBG）的测量数据。
Santec可调谐激光器TSL系列配备有标准的波长监测器，是最理想的光无源器件高精度测试仪器。下图是 Acetylene (12C2H2) 波长测量数据，从中可以看出高测量精度。
Santec高速扫描测试系统不仅可以进行光器件WDL测量，还可以测试高密度波分复用（DWDM），AWG,波长选择开关（WSS）或更多，而且在连续扫描时，有效保持超窄滤波器 (Ultra-high Q 腔体装置) 高分辨率。
