| 波长 | 硅检测器: 190 to 1150 nm 砷化镓探测器:650 to 1800 nm 硅检测器+InGaAs检测器:190 to 1800 nm 硅+InGaAs(扩展)检测器: 190 to 2300 or 2500 nm |
| 扫描的光束直径 | Si检测器:5µm到4µm'到2µm的刀锋模式 砷化镓检测器:10µm至3mm'至2µm,在刀刃模式下 砷化镓(扩展)探测器:10µm至2mm'至2µm,在刀刃模式下 |
| 光束腰部直径测量 | 第二时刻(4s)直径,符合ISO 11146;拟合高斯和TopHat 1/e²(13.5%)宽度 用户可选择峰值的百分比 用于非常小的光束的刀刃模式 |
| 测量源 | CW:脉冲激光器的Φ µm ≥ [500/(PRR in kHz)] |
| 分辨率精度 | 0.1 µm或0.05%的扫描范围 ± < 2% ± = 0.5 µ |
| 最大功率和辐照度 | 1 W总功率和0.5 mW/µm² |
| 增益范围 | 1'000:1 开关式;4'096:1 ADC范围 |
| 显示的图形 | X-Y位置和剖面图的缩放比例x1至x16 |
| 更新率 | ~5 Hz |
| 通过/失败显示 | 屏幕上可选择通过/失败的颜色。是质量保证和生产的理想选择 |
| 平均值 | 用户可选择的运行平均值(1至8个样本) |
| 统计数据 | 最小值'。最大'。平均数' 标准偏差 延长时期的日志数据 |
| XY剖面和中心点 | 光束漂移显示和记录 |
| 最低PC要求 | Windows,2GB内存,USB 2.0/3.0端口 |